Scanning Probe Microscopy


  • Risoluzione monoatomica con scansioni di 100 µm x 100 µm.
  • Alta ripetibilità nel posizionamento.
  • Alta sensibilità per misure a bassa intensità.
  • • Sistema modulabile in grado di fornire diversi tipi di analisi.
  • Risoluzione atomica.
  • Bassa corrente di tunnel.
  • Alta versatilità.
  • Sistemi integrati per un posizionamento estremamente preciso.
  • Ampio spettro di funzionamento.
  • Facilmente espandibile.
  • Compatibile con strumentazione di terze parti.

Per informazioni lo specialista del prodotto è:

Andrea Geraldi - Crisel Instruments

FEDERICO MOCHI
Physical Science Application Specialist
Tel: +39 06 35402933 r.a.
E-mail:
mochi@crisel-instruments.it