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Caratterizzazione dei Semiconduttori

CARATTERIZZAZIONE DI FILM SOTTILI, MISURAZIONE DELLA RESISTIVITÀ PER SEMI-ISOLANTI, EFFETTO HALL, NANOCARATTERIZZAZIONI DELLE SUPERFICI (AFM), NANOINDENTER

CARATTERIZZAZIONE DI FILM SOTTILI

MISURAZIONE DELLA RESISTIVITÀ PER SEMI-ISOLANTI

EFFETTO HALL

NANOCARATTERIZZAZIONI DELLE SUPERFICI (AFM)

NANOINDENTER