Skip to content
  • Inglese
  • Italiano

Nanocaratterizzazioni delle Superfici (AFM)

NANO SURFACE CHARACTERIZATION

Nanocaratterizzazioni Delle Superfici (AFM)

Le caratteristiche topografiche delle superfici nell’industria dei semiconduttori sono una fonte importante per raccogliere informazioni sulle possibili fonti di guasto o stimare i tassi di successo per migliorare la resa complessiva del processo.
Esaminando la morfologia superficiale dei substrati, degli strati epitassiali prima e dopo i processi, possono essere portate alla luce delle criticità all’interno dei processi e quindi, risolvendole, si aumenta la qualità dei propri processi.

CONTATTA IL NOSTRO SPECIALISTA DI PRODOTTO

Federico Mochi - Crisel Instrumens

FEDERICO MOCHI

Physical Science Application Specialist